ナノテクノロジーと電子顕微鏡 : 最先端電顕の外部開放と解析支援 : 概要集 : ナノテクノロジー総合支援プロジェクトワークショップ text [s.n.] 2002-01-01 00:00:00 +0900 unknown jpn
volume
18p ; 30cm 539.24 開催日 : 2002年11月29日 (金) 場所 : 仙台市戦災復興記念館 主催 : ナノテクノロジー総合支援プロジェクトセンター, ナノテクノロジー総合支援プロジェクト超高圧透過型電子顕微鏡グループ 実行委員会 : 古屋一夫, 松井良夫, 坂東義雄, 平賀賢二, 大砂哲, 森博太郎, 鷹岡昭夫, 松村晶, 金子賢治 2024-05-14 16:35:56 +0900 2025-12-15 09:22:55 +0900 https://library.nims.go.jp/manifestations/133012 High-resolution electron microscopy for materials science Zairyō hyōka no tame no kōbunkai no denshi kenbikyōhō//材料評価のための高分解能電子顕微鏡法 進藤, 大輔 creator 平賀, 賢二 creator text Springer-Verlag unknown eng
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ix, 190 p. ; 28 cm 620.187.5 Includes bibliographical references and index 9784431702344 1901-01-01 09:00:00 +0900 2025-12-15 09:41:42 +0900 https://library.nims.go.jp/manifestations/43002 材料評価のための高分解能電子顕微鏡法 </titleInfo> <name type="personal"> <namePart>進藤, 大輔</namePart> <role> <roleTerm type="text" authority="marcrelator">creator</roleTerm> </role> </name> <name type="personal"> <namePart>平賀, 賢二</namePart> <role> <roleTerm type="text" authority="marcrelator">creator</roleTerm> </role> </name> <typeOfResource>text</typeOfResource> <originInfo> <publisher>共立出版</publisher> <dateIssued/> <frequency>unknown</frequency> </originInfo> <language> <languageTerm authority="iso639-2b" type="code">jpn</languageTerm> </language> <physicalDescription> <form authority="marcform">volume</form> <extent>vi, 201p ; 26cm</extent> </physicalDescription> <subject> </subject> <classification authority="udc">620.187.5</classification> <abstract/> <note>文献: 各章末</note> <identifier type="isbn">9784320071384</identifier> <recordInfo> <recordCreationDate>1901-01-01 09:00:00 +0900</recordCreationDate> <recordChangeDate>2025-12-15 09:41:42 +0900</recordChangeDate> <recordIdentifier>https://library.nims.go.jp/manifestations/73857</recordIdentifier> </recordInfo> </modsCollection>