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[M] High resolution X-ray diffractometry and topography
D. Keith Bowen and Brian K. Tanner
出版者: Taylor & Francis
(出版日: c1998)
形態: | 冊子体 |
言語: | English |
ページ数と大きさ: | x, 252 p. ; 26 cm |
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識別子: | ISBN: 9780850667585 |
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