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[M] High resolution X-ray diffractometry and topography 冊子体

著者: D. Keith Bowen and Brian K. Tanner 出版者: Taylor & Francis (出版日: c1998)

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: x, 252 p. ; 26 cm
件名:
分類:
識別子: ISBN: 9780850667585
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600165 千現 単行書9 画像 548.73|B 在架(利用可能)