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[M] Applications of Electron Microfractography to Materials Research : A Symposium Presented at the Seventy-third Annual Meeting American Society for Testing and Materials Toronto, Ont., Canada, 21-26 June 1970 : ASTM STP No.493 STP 493 No.493 冊子体


著者: 出版者: American Society for Testing and Materials (ASTM) (出版日: 1971)

版:
巻号: 巻: No.493
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 96p; 23cm
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所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
212700 千現 プロシーディングス27 画像 STP|A|キ433 在架(利用可能)