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Fractography in Failure Analysis : A Symposium Presented at May Committee Week American Society for Testing and Materials 1-6 May 1977, Toronto, Canada : ASTM STP No.645 STP 645 No.645 
著者: Editors, B.M.strauss , W.H.Cullen 出版者: American Society for Testing and Materials (ASTM) (出版日: 1978)
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| 巻号: | 巻: No.645 |
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | 390p; 24cm |
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| 所蔵情報ID | 図書館 | 本棚 | 請求記号 | 貸出状態 |
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| 215897 | 千現 |
プロシーディングス27 
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STP|A|T-1067 | 在架（利用可能） |
