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[M] X-Ray Optics and X-Ray Microanalysis: Third International Symposium Stanford University, Stanford, California, August, 1962 冊子体

著者: 協力者・編者: edited by H.H. Pattee, V.E. Cosslett, Arne Engstrom 出版者: Academic Press (出版日: 1963)

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 622p; 24cm
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所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
202061 千現 単行書9 画像 548.73|P|2451 在架(利用可能)