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[M] Journal of Crystal Growth Vol.210 : Nos.1-3 Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors 1999 : Proceedings of Eighth International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors Narita, Japan September 15-18, 1999 : with Master Index v.201-210 Vol.210 :with Master Index v.201-210 定期刊行物 冊子体

著者: 出版者: North-Holland (出版日: 2000)

形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 1p; 27cm
件名:
分類:
識別子: ISSN: 00220248
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
129341 千現 集密書庫 画像 |J|25159 在架(利用可能)
貸出不可