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[M] Materials Science & Engineering B, Solid-State Materials for Advanced Technology Vol.B40-B42 / V.B41 Proceedings of The 2nd International Symposium onOxide Electronics December 14-15,1995,Yokohama, Japan / V.B42 Containing papers presented at the 4th International Workshop on Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors(BIADS 96),3-6 June 1996,El Escorial, Spain Vol.B40-B42 定期刊行物 冊子体

著者: 出版者: Elsevier (出版日: 1996)

版:
巻号: 巻: Vol.B40-B42
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: 1p; 29cm
件名:
分類:
識別子: ISSN: 09215107
アブストラクト:

所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
122999 千現 集密書庫 画像 |M|22831 在架(利用可能)
貸出不可