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[M] Defects in Semiconductors 18 : Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 Vols.196-201 Part 3
著者: edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida 協力者・編者: edited by Masashi Suezawa and Hiroshi Katayama-Yoshida 出版者: Trans Tech Publications
定期刊行物: | Materials Science Forum |
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版: | 第5版 |
巻号: | |
形態: | 冊子体 |
言語: | English |
ページ数と大きさ: | 1109 p. (1 - 1109) |
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識別子: | ISBN: 9780878497140 ISSN: 02555476 |
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