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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 
著者: Dale E. Newbury, David C. Joy, Patrick Echlin [et al.] 出版者: Plenum Press
(出版日: 1986)
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | 454p; 24cm |
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| 識別子: | ISBN: 9780306421402 |
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