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1	粒度 Particle Measurement 31巻 31 川口 寅之輔, 田村 皖司 著 ; 計量管理協会 川口 寅之輔, 田村 皖司 著 ; 計量管理協会 コロナ社 (1964) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 206099 千現 単行書2 53.08|K|1702 在架（利用可能）
2	粒度 Particle Measurement 31巻 31 川口 寅之輔, 田村 皖司 著 ; 計量管理協会 川口 寅之輔, 田村 皖司 著 ; 計量管理協会 コロナ社 (1964) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205713 千現 単行書2 53.08|K|763 在架（利用可能）
3	材料試験機 Testing Machine 12巻 12 渡邊 修一 著 ; 計量管理協会 渡邊 修一 著 ; 計量管理協会 コロナ社 (1959) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 202899 千現 単行書2 53.08|K|1900 在架（利用可能）
4	物性定数推算法 佐藤一雄 丸善 (1962) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201189 千現 単行書2 53.08|Ｓ| 在架（利用可能）
5	Physikochemischer Messungen Ostwald Luther Akademische Verlagsgesellschaft (1925) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201152 千現 単行書2 53.08|Ｐｈ| 在架（利用可能）
6	表面分析辞典 日本表面科学会 共立出版 (1986) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 200432 千現 参考図書19 543(03)|Ｈ|8563 在架（利用可能） 貸出不可 216235 千現 参考図書18 5308|Ｎｉ| 在架（利用可能） 602493 並木 単行書10 543(03)|N| 在架（利用可能）
7	表面分析図鑑 日本表面科学会 編； 編集委員, 真下 正夫, 小島 勇夫, 土井 清三 共立出版 (1994) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217639 千現 参考図書20 53.08|N|10510 在架（利用可能）
8	光学的測定 第５巻 第５巻 尾中竜猛 [他] 朝倉書店 (1967) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201117 千現 単行書2 53.08|I|1693 在架（利用可能）
9	Superconductive Devices Series John W. Bremer McGraw-Hill (1962) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201151 千現 単行書2 53.08|B|2418 在架（利用可能）
10	High Speed Photography : Its Principles and Applications by George A. Jones Chapman ＆ Hall (1952) UDC: 53.08 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201154 千現 単行書2 53.08|J|637 在架（利用可能）

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図書館

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コレクション

言語

• 日本語 (9)
• English (3)

出版日

• 2000 - 2009 (1)
• 1990 - 1999 (1)
• 1980 - 1989 (1)
• 1970 - 1979 (1)
• 1960 - 1969 (5)
• 1950 - 1959 (2)
• 1920 - 1929 (1)

予約可能

• はい (12)

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