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1	In situ electron and tunneling microscopy of dynamic processes : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. Sharma, Renu Materials Research Society Symposium on "In Situ Electron and Tunneling Microscopy of Dynamic Processes" Materials Research Society (1996) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602560 千現 プロシーディングス26 MRS|S| 在架（利用可能）
2	Scanning probe microscopy : analytical methods Wiesendanger, R. (Roland) Springer-Verlag (1998) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 601886 並木 単行書16 621.385|W|寄贈 在架（利用可能）
3	無敵のバイオテクニカルシリーズ＠顕微鏡の使い方ノート＠光学顕微鏡からＣＣＤカメラまで （顕微鏡の使い方ノート） 野島 博 羊土社 (1997) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527871 並木 単行書16 621.385||05355 在架（利用可能）
4	ミクロの世界・物質編 ＠目で観る物性論 （社）日本電子顕微鏡学会 学際企画 (1997) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527884 並木 単行書16 621.385||05349 在架（利用可能）
5	Surface Preparation and Microscopy of Materials Bousfield.B' John Wiley & Sons (1992) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527877 並木 単行書16 621.385||05343 在架（利用可能）
6	Electron-Beam, X-Ray,EUV,and Ion-Beam Submicrometer Lithographies for Manufacturing V Proceedings SPIE-The International Society for Optical Engineering Vol.2437 Vol.2437 2437 John M. Warlaumont SPIE−The International Society for Optical Engineering (1995) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216893 千現 単行書11 621.385.833|Ｗ|9835 在架（利用可能）

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出版日

• 1990 - 1999 (6)
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予約可能

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