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161	Emission spectroscopy ; Analytical microwave spectroscopy ; Analytical applications of electron microscopy Svehla, G. Beretka, J. Kántor, T. Elsevier UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 208340 千現 単行書7 543|W|5837 在架（利用可能）
162	Ion exchangers in analytical chemistry Samuelson, Olof Wiley UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 202486 千現 単行書7 543|S|394 在架（利用可能）
163	Trace analysis : papers presented at a Symposium on Trace Analysis held at the New York Academy of Medicine, New York, N.Y., November 2, 3, 4, 1955 Yoe, John H. (John Howe) Koch, Henry J. Symposium on Trace Analysis edited by John H. Yoe and Henry J. Koch, Jr. Wiley Chapman & Hall UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 209213 千現 単行書7 543|Y|1066 在架（利用可能）
164	Outlines of methods of chemical analysis Lundell, G. E. F. (Gustav Ernst Fredrick) Hoffman, James Irvin J. Wiley Chapman & Hall UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 202458 千現 単行書7 543|L|75 在架（利用可能）
165	Quantitative chemical analysis Harris, Daniel C. W.H. Freeman UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600679 千現 単行書6 543|H| 在架（利用可能）
166	Tables for computing tht lattice constant of cubic crystals Parrish, William Irwin, B. W. Philips Technical Library UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205416 千現 単行書7 543|P|440 在架（利用可能）
167	Materials Analysis Station : Department of Materials Infrastructure 物質・材料研究機構 物質・材料研究機構 UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602751 千現 単行書1 NIMS|M| 在架（利用可能）
168	Die Chemische Analyse in der Staklindustrie Winkel Ferdinand UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 202498 千現 単行書7 543|Ｃｈ| 在架（利用可能）
169	Analytical Absorpition Spectroscorpy Mellon John Wiley & Son UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 202462 千現 単行書7 543|Ａｎ| 在架（利用可能）

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• 冊子体 (169)

図書館

• 千現 (98)
• 並木 (71)

コレクション

言語

• English (169)
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出版日

• 2000 - 2009 (9)
• 1990 - 1999 (1)
• 1970 - 1979 (1)
• 1950 - 1959 (2)

予約可能

• はい (164)
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