資料を検索する

56 件の資料が 103552 件の資料から 0.026 秒で見つかりました。

次の項目で並べ替える: 新着図書優先 出版日優先タイトル

Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Proparationsmethoden

Ludwig Reimer Springer-Verlag (1959) UDC: 621.385.833

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
201994	千現	単行書11	621.385.\|R\|1518	在架（利用可能）

Introduction to Scanning Tunneling Microscopy 4

C. Julian Chen Oxford University Press (1993) UDC: 621.385.833

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
210679	千現	単行書11	621.385.833\|C\|T-1535	在架（利用可能）

Principles and Practice of Electron Microscope Operation Vol.2 Vol.2

Alan W. Agar, Ronald H. Alderson, Dawn Chescoe North−Holland (1974) UDC: 621.385.833

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
205648	千現	単行書11	621.385.833\|G\|6497	在架（利用可能）

Practical Methods in Electron Microscopy/ Specimen Preparation in Materials Science [Part 1]/ Electron Diffraction and Optical Diffraction Techniques [Part 2] Vol.1 Part 1.2 Vol.1

P.J. Goodhew [Part 1]/ B.E.P. Beeston, Robert W. Horne and Roy Markham[Part 2] North-Holland (1972) UDC: 621.385.833

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
205647	千現	単行書11	621.385.833\|G\|6496	在架（利用可能）

Techniques for Electron Microscopy -2nd ed.-

edited by Desmond H. Kay ; foreword by V.E. Cosslett edited by Desmond H. Kay ; foreword by V.E. Cosslett Blackwell Scientific Publications (1965) UDC: 621.385.833

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
216706	千現	単行書11	621.385.833\|Ｋ\|2983	在架（利用可能）

Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis: Jointly sponsored by the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society

edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman John Wiley & Sons (1975) UDC: 621.385.833

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
205664	千現	単行書11	621.385.833\|S\|5820	在架（利用可能）

NIMS Library Portal

資料を検索する

合計: 56

資料の形態

図書館

コレクション

言語

出版日

予約可能

書き出し