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1 Noncontact atomic force microscopy [v. 1] 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602582 並木 単行書16 画像 621.385|M| 在架（利用可能）
2 Vacuum Microelectronics 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219075 千現 単行書11 画像 621.385|Z|11602 在架（利用可能）
3 Scanning probe microscopy : analytical methods 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
601886 並木 単行書16 画像 621.385|W|寄贈 在架（利用可能）
4 In situ electron and tunneling microscopy of dynamic processes : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602560 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|S| 在架（利用可能）
5 Electron-Beam, X-Ray,EUV,and Ion-Beam Submicrometer Lithographies for Manufacturing V Proceedings SPIE-The International Society for Optical Engineering Vol.2437 Vol.2437 2437 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216893 千現 単行書11 画像 621.385.833|Ｗ|9835 在架（利用可能）
6 Surface Preparation and Microscopy of Materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527877 並木 単行書16 画像 621.385||05343 在架（利用可能）
7 Electron Energy-Loss Spectroscopy in The Electron Microscope 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216674 千現 単行書11 画像 621.385|E|9643 在架（利用可能）
8 Electron Microscopy 1982 Vol.3 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205645 千現 単行書11 画像 621.385|Ｃ| 在架（利用可能）
9 Scanning Electron Microscopy. 1979/1 (An International Review of Advances in Techniques & Applications of the Scanning Electron Microscope.) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527876 並木 単行書16 画像 621.385||04238 在架（利用可能）
10 Scanning Electron Microscopy. 1979/Ⅱ (An International Review of Advances in Techniques & Applications of the Scanning Electron Microscope.) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527875 並木 単行書16 画像 621.385||04239 在架（利用可能）

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