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1	In situ electron and tunneling microscopy of dynamic processes : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. Sharma, Renu Materials Research Society Symposium on "In Situ Electron and Tunneling Microscopy of Dynamic Processes" Materials Research Society (1996) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 602560 千現 プロシーディングス26 MRS|S| 在架（利用可能）
2	Electron-Beam, X-Ray,EUV,and Ion-Beam Submicrometer Lithographies for Manufacturing V Proceedings SPIE-The International Society for Optical Engineering Vol.2437 Vol.2437 2437 John M. Warlaumont SPIE−The International Society for Optical Engineering (1995) UDC: 621.385 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216893 千現 単行書11 621.385.833|Ｗ|9835 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (2)

図書館

• 千現 (2)
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コレクション

言語

• English (2)

出版日

• 1990 - 1999 (2)
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予約可能

• はい (2)

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