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11	Properties of porous silicon Canham, Leigh T. INSPEC (Information service) edited by Leigh Chanham INSPEC, Institution of Electrical Engineers (1997) UDC: 537.311 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219663 並木 単行書8 537.311|W|18 在架（利用可能）
12	Properties of strained and relaxed silicon germanium Kasper, Erich edited by Erich Kasper INSPEC, IEE (1995) UDC: 537.311 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219673 並木 単行書8 537.311|W|12 在架（利用可能）
13	Properties of amorphous carbon Silva, S. Ravi P. INSPEC, Institution of Electrical Engineers (2003) UDC: 546.26 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 522972 並木 単行書16 546.26|S|05636 貸出中 ( 返却期限: 2008年09月29日 )
14	Properties of crystalline silicon Hull, Robert Institution of Electrical Engineers edited by Robert Hull INSPEC, Institution of Electrical Engineers (1999) UDC: 537.311 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218191 並木 単行書8 537.311|W|20 在架（利用可能）
15	Properties, processing and applications of gallium nitride and related semiconductors Edgar, James H. INSPEC (1999) UDC: 544.03 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218567 並木 単行書14 544.03|E|11250 在架（利用可能）
16	Properties, growth and applications of diamond Nazaré, M. H. Portugal, A. J. edited by M.H. Nazare, A.J. Neves INSPEC, Institution of Electrical Engineers (2001) UDC: 546.26 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 522914 並木 単行書16 546.26|N|05562 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (16)

図書館

• 並木 (16)
• 千現 (1)

コレクション

言語

• English (16)

出版日

• 1990 - 1999 (1)

予約可能

• はい (15)
• いいえ (1)

書き出し

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