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21	Handbook of Microscopy : Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry ; Applications Applications edited by S. Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt, G. van Tendeloo edited by S. Amelinckx, D. van Dyck, J. van Landuyt, G. van Tendeloo VCH (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217581 千現 参考図書23 621.385.833|Ａ|10463 在架（利用可能）
22	Handbook of Microscopy : Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: Methods Ⅱ Methods 2 edited by S. Amelinckx, D.van Dyck, J.van Landuyt, G. Van Tendeloo edited by S. Amelinckx, D.van Dyck, J.van Landuyt, G. Van Tendeloo VCH (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217580 千現 参考図書23 621.385.833|Ａ|10462 在架（利用可能）
23	Handbook of Microscopy : Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: MethodsⅠ Methods 1 edited by S. Amelinckx, D.van Dyck, J.van Landuyt, G.Van Tendeloo edited by S. Amelinckx, D.van Dyck, J.van Landuyt, G.Van Tendeloo VCH (1997) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217579 千現 参考図書23 621.385.833|Ａ|10461 在架（利用可能）
24	High-Resolution Transmission Electron Microscopy and Associated Techniques editors, Peter R. Buseck, John M. Cowley, LeRoy Eyring Oxford University Press (1992) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217813 千現 単行書11 621.385.833|B|10644 在架（利用可能）
25	In Situ Experiments with High Voltage Electron Microscopes eitor in chief, Hiroshi Fujita Research Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka University (1985) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204815 千現 単行書11 621.385.833|F|ｷ 184 在架（利用可能）
26	Introduction to Scanning Tunneling Microscopy 4 C. Julian Chen Oxford University Press (1993) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 210679 千現 単行書11 621.385.833|C|T-1535 在架（利用可能）
27	Microscopy of Oxidation 2 ; Proceedings of The Second International Conference on The Microscopy of Oxidation held At Selwyn College,The University of Cambridge 29-31 March 1993 552 edite by S.B. Newcomb, M.J. Bennett The Institute of Materials (1993) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217746 千現 単行書11 621.385.833|N|ｷ803 在架（利用可能）
28	New Direction in Transmission Electron Microscopy and Nano-characterization of Materials Kinoshita.C.' Kyushu University (1998) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527905 並木 単行書16 621.385.||05396 在架（利用可能）
29	Oxford Series in Optical and Imaging Sciences 4 (Introduction to Scanning Tunneling Microscopy) Chen.C.J.' Oxford University Press (1993) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527878 並木 単行書16 621.385.||05106 在架（利用可能）
30	Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis: Jointly sponsored by the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman John Wiley & Sons (1975) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205664 千現 単行書11 621.385.833|S|5820 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (73)

図書館

• 千現 (64)
• 並木 (14)

コレクション

言語

• English (56)
• 日本語 (17)

出版日

• 2010 - 2019 (1)
• 2000 - 2009 (3)
• 1990 - 1999 (28)
• 1980 - 1989 (16)
• 1970 - 1979 (11)
• 1960 - 1969 (5)
• 1950 - 1959 (2)
• 1940 - 1949 (1)

予約可能

• はい (71)
• いいえ (2)

書き出し

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