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31	Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205652 千現 単行書11 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
32	Tables of Spectral-Line Intensities : Part 1 Arranged by Elements 1 William F. Meggers, Charles H. Corliss and Bourdon F. Scribner National Bureau of Standards (1975) 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 207814 千現 参考図書21 543|Ｍ|6213 在架（利用可能）
33	Practical Methods in Electron Microscopy/ Specimen Preparation in Materials Science [Part 1]/ Electron Diffraction and Optical Diffraction Techniques [Part 2] Vol.1 Part 1.2 Vol.1 P.J. Goodhew [Part 1]/ B.E.P. Beeston, Robert W. Horne and Roy Markham[Part 2] North-Holland (1972) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205647 千現 単行書11 621.385.833|G|6496 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (33)

図書館

• 千現 (19)
• 並木 (14)

コレクション

言語

• English (33)

出版日

• 1970 - 1979 (33)
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予約可能

• はい (31)
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