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51 Scanning Probe Microscopies : From Surface Structure to Nano-Scale Engineering 14 14 冊子体
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219030 千現 単行書13 画像 669|M|11569 在架(利用可能)
52 Sol-Gel Preparation and Characterization of Metal-Silica and Metal Oxide-Silica Nanocomposites 13 13 冊子体
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219029 千現 単行書13 画像 669|M|11568 在架(利用可能)
53 Composite Materials for Electronic Functions 12 12 冊子体
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219028 千現 単行書13 画像 669|M|11567 在架(利用可能)
54 Polycrystalline Semiconductors Ⅳ, Materials, Technologies, and Large Area Electronics : Proceedings of the 6th International Conference, Saint Malo, September 3-7, 2000 Vols. 80-81 Vols.80-81 冊子体
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218998 千現 単行書9 画像 548.526|D|11538 在架(利用可能)
55 Creep and Fracture of Engineering Materials and Structures : Proceedings of the 8th International Conference on Creep and Fracture of Engineering Materials and Structures, held in Tsukuba, Japan, November 1-5, 1999; CFEMS-8 冊子体
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218894 千現 単行書6 画像 539.434|W|キ1077 在架(利用可能)
56 Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218799 千現 単行書9 画像 548.526|D|11471 在架(利用可能)
57 Ultra Clean Processing of Silicon Surfaces : Proceedings of the Fifth International Symposium on Ultra Clean Processing of Silicon Surfaces (UCPSS 2000), held in Ostend, Belgium, September 18-20, 2000 Vols. 76-77 Vols.76-77 冊子体
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218743 千現 単行書9 画像 548.526|D|11420 在架(利用可能)
58 Hydrogen Metal Systems 2 Vols.73-75 Vols.73-75 冊子体
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218619 千現 単行書9 画像 548.526|D|11302 在架(利用可能)
59 Diffusion and Reactions : Proceedings of the 2nd International Conference, held in Zakopane, Poland, September 14-18, 1999 Vol.72 Vol.72 冊子体
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218393 千現 単行書9 画像 548.526|D|11127 在架(利用可能)
60 Special Defects in Semiconducting Materials Vol.71 Vol.71 冊子体
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218373 千現 単行書9 画像 548.526|D|11107 在架(利用可能)

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