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51 Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205652 千現 単行書11 画像 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
52 Developments in Electron Microscopy and Analysis. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205663 千現 単行書11 画像 621.385.833|Ｖ|5861 在架（利用可能）
53 走査電子顕微鏡：基礎と応用 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215628 千現 単行書11 画像 621.385.833|N|T-66 在架（利用可能）
54 Practical Scanning Electron Microscopy. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527900 並木 単行書16 画像 621.385.||03410 在架（利用可能）
55 Electron diffraction in the electron microscope 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600500 千現 単行書11 画像 621.385.833|M|2 在架（利用可能）
56 Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis: Jointly sponsored by the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205664 千現 単行書11 画像 621.385.833|S|5820 在架（利用可能）
57 Principles and Practice of Electron Microscope Operation Vol.2 Vol.2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205648 千現 単行書11 画像 621.385.833|G|6497 在架（利用可能）
58 The operation and calibration of the electron microscope 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600499 千現 単行書11 画像 621.385.833|M|1 在架（利用可能）
59 Practical Methods in Electron Microscopy/ Specimen Preparation in Materials Science [Part 1]/ Electron Diffraction and Optical Diffraction Techniques [Part 2] Vol.1 Part 1.2 Vol.1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205647 千現 単行書11 画像 621.385.833|G|6496 在架（利用可能）
60 Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218843 千現 単行書11 画像 621.385.833|F|11478 在架（利用可能）

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