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1
An Electron Exposure System for Recording and Printing
L. A. Fontijn
Deiftsche Vitgevers Maatschappij N. V.
(1972)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205352
千現
集密書庫
621.38|El|
在架(利用可能)
2
Electron Microfractography.
American Society for Testing & Materials.
American Society for Testing & Materials.
(1970)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
527853
並木
単行書16
621.38||02367
在架(利用可能)
3
Electron and Ion Beam Science and technology Fifth International Conference
edited by Robert Bakish
edited by Robert Bakish
(1972)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
208507
千現
単行書11
621.38|B|
在架(利用可能)
4
IC Master 1979
United Technical Pub.
(1979)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
523251
並木
参考図書2
621.38||03889
在架(利用可能)
5
Material Characterization Using Ion Beams B 28 Physics,Vol.28
edited by J.P. Thomas, A. Cachard
edited by J.P. Thomas, A. Cachard
Plenum Press
(1978)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
215445
千現
単行書11
621.38|T|T-515
在架(利用可能)
6
Semiconductor Lasers and Heterojunction LEDs Applications
Henry Kressel, Jerome K. Butler
Academic Press
(1977)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
215485
千現
単行書11
621.38|K|T-800
在架(利用可能)
7
Systematic Materials Analysis Vol.1
J.A.Richardson & R.V.Peterson
Academic,N.Y.
(1974)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
204459
千現
単行書11
621.38|R|
在架(利用可能)
8
化合物半導体デバイス
日本産業技術振興協会新材料技術委員会
日本産業技術振興協会新材料技術委員会
日本産業技術振興協会
(1973)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
207924
千現
単行書11
621.38|N|5340
在架(利用可能)
9
詳解力学演習
後藤, 憲一
山本, 邦夫
神吉, 健
共立出版
(1971)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
602538
並木
単行書16
621.38|G|
在架(利用可能)
10
電子光学 228
裏克己
共立出版
(1979)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
208513
千現
単行書11
621.38|K|7205
在架(利用可能)
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合計: 13
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資料の形態
冊子体 (13)
図書館
千現 (9)
並木 (4)
コレクション
言語
English (8)
日本語 (5)
出版日
1970 - 1979 (13)
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予約可能
はい (13)
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書き出し
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