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1	Developments in Electron Microscopy and Analysis. edited and introduced by J.A. Venables Academic Press (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205663 千現 単行書11 621.385.833|Ｖ|5861 在架（利用可能）
2	Electron diffraction in the electron microscope J. W. Edington (1975) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600500 千現 単行書11 621.385.833|M|2 在架（利用可能）
3	Electron microscope specimen preparation techniques in materials science K. C. Thompson-Russell and J. W. Edington Macmillan (1977) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600501 千現 単行書11 621.385.833|M|5 在架（利用可能）
4	Physical Aspects of Electron Microscopy and Microbeam Analysis: Jointly sponsored by the Electron Microscopy Society of America and the Microbeam Analysis Society edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman John Wiley & Sons (1975) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205664 千現 単行書11 621.385.833|S|5820 在架（利用可能）
5	Practical Methods in Electron Microscopy/ Specimen Preparation in Materials Science [Part 1]/ Electron Diffraction and Optical Diffraction Techniques [Part 2] Vol.1 Part 1.2 Vol.1 P.J. Goodhew [Part 1]/ B.E.P. Beeston, Robert W. Horne and Roy Markham[Part 2] North-Holland (1972) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205647 千現 単行書11 621.385.833|G|6496 在架（利用可能）
6	Practical Scanning Electron Microscopy. Goldstein.J.I. Yakowitz.H.' Plenum Press (1975) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527900 並木 単行書16 621.385.||03410 在架（利用可能）
7	Principles and Practice of Electron Microscope Operation Vol.2 Vol.2 Alan W. Agar, Ronald H. Alderson, Dawn Chescoe North−Holland (1974) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205648 千現 単行書11 621.385.833|G|6497 在架（利用可能）
8	Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205652 千現 単行書11 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
9	The Chemical Applications of Transmission Electron Microscopy. Fryer.J.R.' Academic Press (1979) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 527901 並木 単行書16 621.385.||04167 在架（利用可能）
10	The operation and calibration of the electron microscope J.W. Edington Macmillan (1974) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 600499 千現 単行書11 621.385.833|M|1 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (11)

図書館

• 千現 (9)
• 並木 (2)

コレクション

言語

• English (10)
• 日本語 (1)

出版日

• 1970 - 1979 (11)
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予約可能

• はい (11)

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