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1 Shallow impurities in semiconductors 1988 : proceedings of the Third International Conference held in Linköping, Sweden, 10-12 August 1988 冊子体
(c1989) UDC: 621.315
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600116 並木 単行書16 画像 621.315|M 在架(利用可能)
2 Proceedings of the 3rd International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation Tsukuba, Japan 29 August- 2 September1988 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211076 千現 単行書11 画像 621.384.66|A|キ 1594 在架(利用可能)
3 Proceedings of the 3rd International Conference on Synchrotron Radiation Instrumentation 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529665 並木 単行書15 画像 A|寄贈| 在架(利用可能)
4 American Institute of Physics. Conference Proceedings. No.165 (American Vacuum Society Series. 3 Thin Film Processing and Characterization of High-Temperature Suerconductors.) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
528301 並木 単行書8 画像 539.23||04728 在架(利用可能)
5 AIP Conference Proceedings 140 (Boron-Rich Solids) 冊子体
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527014 並木 単行書13 画像 546.27||05151 在架(利用可能)
6 The Physics of Semiconductors Vol.1 Warsaw, Poland August 15-19 1988 Vol.1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217599 千現 単行書11 画像 621.38|Z| 在架(利用可能)
7 Resonance Ionization Spectroscopy 1988 : Proceedings of The Fourth International Symposium on Resonace Ionization Spectroscopy and its Applications held at The National Bureau of Standards, Gaithersburg, Maryland from 10-15 April 1988 94 94 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
207824 千現 単行書3 画像 535.33|L|8611 在架(利用可能)
8 Microscopy of Semiconducting Materials, 1983 No.67 67 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
207991 千現 単行書3 画像 537.311|C|7772 在架(利用可能)
9 Microscopy of Semiconducting Materials, 1981 No.60 60 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
207992 千現 単行書3 画像 537.311|C|7771 在架(利用可能)
10 Microscopy of Semiconducting Materials, 1985 No.76 76 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
207990 千現 単行書3 画像 537.311|C|7863 在架(利用可能)

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