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1	Incidents that define process safety Wiley (2010) http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/9780470925171 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 (番号なし) ウェブ ウェブ 在架（利用可能）
2	Processing of Electronic Materials : Proceedings of the First International Conference held at Santa Barbara, California, USA, February 23-28, 1987 editors, Clarence G. Law, Jr., Richard Pollard; sponsored by by Engineering Foundation American Institute of Chemical Engineers (1987) UDC: 537.312 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215209 千現 単行書4 537.312|Ｌ|T-1031 在架（利用可能）
3	A.I.Ch.E Journal ISSN: 00011541 所蔵情報: 【千現】＜年次:1966-1981＞Vol.12-27
4	Symposium on Nondestructive Tests in the Field of Nuclear Energy : Presented in Chicago,Ill.,April 16-18,1957 sponsored by American Institute of Chemical Engineers,Nuclear Engineering Division American Nuclear Society American Society for Testing Materials Atomic Industrial Forum Society for NondestructiveTesting: ASTM STP No.223 STP 223 No.223 ASTM American Society for Testing Materials (ASTM) (1957) UDC: 549 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 209959 千現 プロシーディングス27 STP|A|646 在架（利用可能）

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• 冊子体 (3)
• オンラインリソース (1)

図書館

• 千現 (3)
• ウェブ (1)

コレクション

言語

• English (3)
• 不明 (1)

出版日

• 2010 - 2019 (1)
• 1980 - 1989 (1)
• 1950 - 1959 (1)

予約可能

• いいえ (2)
• はい (2)

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