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Fundamentals of Transmission Electron Microscopy

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
204472	千現	単行書11	621.382\|H\|2668	在架（利用可能）
527902	並木	単行書16	621.385\|\|01122	在架（利用可能）
529965	並木	単行書15	548.74\|H\|寄贈	行方不明 (2022年12月より)
204471	千現	単行書11	621.382\|H\|2645	在架（利用可能）

Fundamentals of Transmission Electron Microscopy 13 Vol.13

(1964) UDC: 621.382

Fundamentals of solid state electronics

Sah, Chih-Tang World Scientific (1991) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
602833	並木	単行書16	621.382\|S\|	在架（利用可能）

Heteroepitaxial Semiconductors for Electronic Devices

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
204467	千現	単行書11	621.382\|Ｃ\|6800	在架（利用可能）

Integrated Circuit Technology.

Seymour Schwartz.' McGraw-Hill Book Com. (1967) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
527870	並木	単行書16	621.382\|\|01043	在架（利用可能）

Proceedings of the International Conference on Semiconductor Physics Prague 1960

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
204466	千現	単行書11	621.382\|I\|2482	在架（利用可能）

Vacuum and Solid State Electronics: an Introductory Course Vol.2

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
204469	千現	単行書11	621.382\|H\|964	在架（利用可能）

クライオエレクトロニクス入門

中村彬オーム社 (1980) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
527874	並木	単行書16	621.382\|N\|04295	在架（利用可能）

シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529620	並木	単行書16	621.382\|U\|05573	在架（利用可能）

次世代ＵＬＳＩ多層配線の新素材・プロセス技術

吉川公麿 [監修] 技術情報協会 (2000) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
218846	千現	単行書11	621.382\|Y\|11481	在架（利用可能）

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