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1 Noncontact atomic force microscopy [v. 1] 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602582 並木 単行書16 画像 621.385|M| 在架（利用可能）
2 新・走査電子顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600132 千現 単行書11 画像 621.385|N 在架（利用可能）
3 電子線ナノイメージング : 高分解能TEMとSTEMによる可視化 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600077 千現 単行書11 画像 621.385|T 在架（利用可能）
4 走査プローブ顕微鏡 : 正しい実験とデータ解析のために必要なこと 6 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600028 千現 単行書11 画像 621.385|S 在架（利用可能）
5 材料開発のための顕微鏡法と応用写真集 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600138 千現 単行書11 画像 621.385|N 在架（利用可能）
6 走査プローブ顕微鏡と局所分光 : 実戦ナノテクノロジー 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600015 千現 単行書11 画像 621.385|S 在架（利用可能）
7 ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600921 千現 単行書11 画像 621.385|N| 在架（利用可能）
601029 並木 単行書16 画像 621.385|N| 在架（利用可能）
8 ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600922 千現 単行書11 画像 621.385|N| 在架（利用可能）
601030 並木 単行書16 画像 621.385|N| 在架（利用可能）
9 Vacuum Microelectronics 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219075 千現 単行書11 画像 621.385|Z|11602 在架（利用可能）
10 走査電子顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602645 並木 単行書16 画像 621.385|N| 在架（利用可能）

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