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1 走査電子顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602645 並木 単行書22 画像 621.385|N| 在架（利用可能）
2 Electron Microscopy 1982 Vol.3 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205645 並木 単行書22 画像 621.385|Ｃ| 在架（利用可能）
3 Scanning Electron Microscopy. 1979/1 (An International Review of Advances in Techniques & Applications of the Scanning Electron Microscope.) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
527876 並木 単行書22 画像 621.385||04238 在架（利用可能）
4 Noncontact atomic force microscopy [v. 1] 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602582 並木 単行書22 画像 621.385|M| 在架（利用可能）
5 Electron microscopy 1966 vol. 1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602592 並木 単行書22 画像 621.385|U| 在架（利用可能）
6 In situ electron and tunneling microscopy of dynamic processes : symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A. 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
602560 並木 集密書庫60 画像 MRS|P|404 在架（利用可能）
7 ナノテクノロジーのための走査電子顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
601029 並木 単行書22 画像 621.385|N| 在架（利用可能）
8 ナノテクノロジーのための走査プローブ顕微鏡 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
601030 並木 単行書22 画像 621.385|N| 在架（利用可能）
9 走査プローブ顕微鏡と局所分光 : 実戦ナノテクノロジー 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600015 並木 単行書22 画像 621.385|S 在架（利用可能）
10 走査プローブ顕微鏡 : 正しい実験とデータ解析のために必要なこと 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600028 並木 単行書22 画像 621.385|S 在架（利用可能）

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