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Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A.
editors, Tomas Diaz de la Rubia ... [et al.]
著者: Diaz de la Rubia, Tomas 出版者: Materials Research Society (出版日: 1997)
貸出区分: 標準
貸出状態: 在架(利用可能)
請求記号: MRS|P|469
原簿番号:
所蔵情報ID: 217735
付録を含む: いいえ
閲覧に必要な権限: Guest
受入日: 1998年03月04日
業務用メモ:
受入時刻:
作成時刻: 2010/12/15 23:36:52
更新時刻: 2025/12/03 16:34:25