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[M]
Atom probe field ion microscopy 
M.K. Miller ... [et al.]
著者: Miller, M. K. (Michael Kenneth) 出版者: Clarendon Press (出版日: 1996)
資料: Atom probe field ion microscopy
貸出区分: 標準
貸出状態: 在架（利用可能）
請求記号: 539.24|M|9968
原簿番号:
所蔵情報ID: 217040
付録を含む: いいえ
閲覧に必要な権限: Guest
受入日: 1996年11月06日
業務用メモ:
受入時刻:
作成時刻: 2010/12/15 23:45:45
更新時刻: 2025/12/15 09:33:12