[M] Materials reliability in microelectronics VIII : symposium held April 13-16, 1998, San Francisco, California, U.S.A.

editors, John C. Bravman ... [et al.]
著者: Bravman, AJohm C. 出版者: Materials Research Society (出版日: 1998)

資料: Materials reliability in microelectronics VIII : symposium held April 13-16, 1998, San Francisco, California, U.S.A.

本棚: 集密書庫60 (並木)

貸出区分: 標準

貸出状態: 在架（利用可能）

請求記号: MRS|P|516

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所蔵情報ID: 218008

付録を含む: いいえ

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受入日: 1999年06月17日

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作成時刻: 2010/12/15 23:48:27

更新時刻: 2025/12/03 16:34:30