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Multiple-beam interference microscopy of metals 
by S. Tolansky
著者: Tolansky, S. (Samuel) 出版者: Academic Press (出版日: 1970)
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | ix, 147 p. ; 24 cm |
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ISBN: 9780126926507
NCID: BA18220656
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Includes bibliographical references and indexes |
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