[M] Japan-US symposium on tools and metrology for nanotechnology : Cornell university, Jan. 23-24, 2003

出版者: [s.n.] (出版日: [2003])

• 書誌詳細

形態:	冊子体
言語:	English
ページ数と大きさ:	1 v. ; 28 cm
件名:
分類:	UDC: 620.2
タグ:
識別子:
アブストラクト:
注記:

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
603232	並木	参考図書2	NIMS|J|	在架（利用可能）

• この資料を予約する
  (0 人の予約待ち)