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Materials and electron device processing : a symposium presented at a National technical Meeting of the American Society for Testing and Materials, Philadelphia, Pa. April 5-7, 1961 
著者: American Society for Testing Materials 出版者: American Society for Testing Materials (出版日: 1961)
| 雑誌・シリーズ情報: |
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冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | viii, 283 p. ; 24 cm |
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| 識別子: |
NCID: BA35395601
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