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Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials : gw 
Yoshio Waseda
著者: 早稲田, 嘉夫 出版者: Springer-Verlag (出版日: 1984)
| 代替タイトル: | Anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials |
| 雑誌・シリーズ情報: |
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| 版: | |
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| 巻号: | 巻: : gw |
| 形態: |
冊子体
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | vi, 183 p. ; 25 cm |
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| 分類: | |
| タグ: |
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| 識別子: |
ISBN: 9783540133599
NCID: BA01246065
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| アブストラクト: | |
| 注記: |
Bibliography: p. [170]-177//Includes index |
