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Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A.
editors, Tomas Diaz de la Rubia ... [et al.]
著者: Diaz de la Rubia, Tomas 出版者: Materials Research Society (出版日: 1997)
| 雑誌・シリーズ情報: |
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| 言語: | English |
| ページ数と大きさ: | xv, 541 p. ; 24 cm |
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ISBN: 9781558993730
NCID: BA34715106
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Includes bibliographical references and index |
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