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[M] Defect and impurity engineered semiconductors, II : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A. 冊子体

editors, S. Ashok ... [et al.]
著者: 出版者: Materials Research Society (出版日: 1998)

代替タイトル: Defect and impurity engineered semiconductors and devices, II
雑誌・シリーズ情報:
  • Materials Research Society symposium proceedings v. 510
形態: 冊子体 冊子体
言語: English
ページ数と大きさ: xvii, 679 p. ; 24 cm
件名:
分類:
タグ:
識別子: ISBN: 9781558994164
アブストラクト:

注記:

Includes bibliographical references and indexes
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217924 並木 集密書庫60 画像 MRS|P|510 在架（利用可能）