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11	Progress in non-destructive testing v. 2 Stanford, E. G. Fearon, J. H. Heywood & Co. (1960) UDC: 620.179 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 203903 並木 単行書20 620.179|S|1754 在架（利用可能）
12	Progress in non-destructive testing v. 1 Stanford, E. G. Fearon, J. H. Heywood & Co. (1958) UDC: 620.179 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 203902 並木 単行書20 620.179|S|952 在架（利用可能）
13	Progress in cryogenics v. 4 Mendelssohn, K. (Kurt) Heywood (1964) UDC: 536.4 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201134 並木 単行書8 536.4|M| 在架（利用可能）
14	Progress in cryogenics v. 2 Mendelssohn, K. (Kurt) Heywood (1960) UDC: 536.4 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201132 並木 単行書8 536.4|M|2181 在架（利用可能）
15	Progress in cryogenics v. 1 Mendelssohn, K. (Kurt) Heywood (1959) UDC: 536.4 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201131 並木 単行書8 536.4|M|2180 在架（利用可能）
16	Electrical resistance of metals Meaden, George Terence Heywood (1966) UDC: 621 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204881 並木 単行書21 621|Ｅ|3438 在架（利用可能）
17	Principles and practice of non-destructive testing Lamble, John Henry edited by J.H. Lamble Heywood (1962) UDC: 620.179 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 203876 並木 単行書20 620.179|Ｌ|2212 在架（利用可能）
18	Progress in semiconductors v. 9 Gibson, Alan F. Burgess, R. E. (Ronald Eric) Heywood & Company (1965) UDC: 621.315 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204227 並木 単行書22 621.315|G|2870 在架（利用可能）
19	Progress in semiconductors v. 7 Gibson, Alan F. Burgess, R. E. (Ronald Eric) Heywood & Company (1963) UDC: 621.315 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204233 並木 単行書22 621.315|Ｐｒ| 在架（利用可能）
20	Progress in semiconductors v. 4 Gibson, Alan F. Burgess, R. E. (Ronald Eric) Kröger, F. A. (Ferdinand Anne) Heywood & Company (1960) UDC: 621.315 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 204228 並木 単行書22 621.315|G|1546 在架（利用可能）

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図書館

• 並木 (27)

コレクション

言語

• English (27)

出版日

• 1970 - 1979 (1)

予約可能

• はい (26)
• いいえ (1)

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