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431 Fatigue mechanisms : advances in quantitative measurement of physical damage : a conference 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215867 千現 書庫12 画像 STP|A|T-1340 在架（利用可能）
貸出不可
432 Colored symmetry 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215327 並木 単行書17 画像 548.1|S|T-115 在架（利用可能）
433 Diffushion and Defect Data Pt.B Vol.15-16 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215791 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｎ| 在架（利用可能）
434 Diffushion and Defect Data Pt.B Vol.17-18 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215792 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｓ| 在架（利用可能）
435 Diffushion and Defect Data Solid State Data Pt.B Vol.13-14 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215790 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｐ| 在架（利用可能）
436 Non linear phenomena in materials science [1] 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215786 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｋ| 在架（利用可能）
437 Ion implantation in semiconductors : [pbk] 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215787 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｓ| 在架（利用可能）
438 The application of electron microscopy to materials science : proceedings of an International Workshop, held in China, Gauonzhou, August 1988 : [pbk] 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215785 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｋ| 在架（利用可能）
439 Gettering and deffect engineering in the semiconductor technology : GADEST '89 : proceedings of the 3rd International Autumn Meeting held in Garzau, German Democratic Republic, October 8-13, 1989 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215783 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｋ| 在架（利用可能）
440 Diffusion and Defect Data Pt．A Vol．113-114 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
213215 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｄ| 在架（利用可能）

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