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41	Principles and Practice of Electron Microscope Operation Vol.2 Vol.2 Alan W. Agar, Ronald H. Alderson, Dawn Chescoe North−Holland (1974) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205648 千現 単行書11 621.385.833|G|6497 在架（利用可能）
42	Scanning Electron Microscopy : Aplications to Materials and Device Science P.R. Thornton Chapman and Hall (1968) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 210682 千現 単行書11 621.385.|T|3539 在架（利用可能）
43	Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Proparationsmethoden Ludwig Reimer Springer-Verlag (1959) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 201994 千現 単行書11 621.385.|R|1518 在架（利用可能）
44	Procedures in Scanning Probe Microscopies editors, Richard J. Colton, Andreas Engel, Jane E. Frommer, Hermann E. Gaub [et al.] John Wiley & Sons UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217874 千現 単行書11 621.385.833|C|10675 在架（利用可能）
45	Scanning Electron Microscopy/ 1976/ 1 : Proceedings of the Part 1 9th Annual Scanning Electron Microscope Symposium / Part 2 Physical Applications of the Scanning Transmission Electron Miroscope / Part 3 Techniques for ParticulateMatter Studies in the Scanning Electron Microscope / Part 4 Microelectronic Device Fabrication and Quality Control with the Scanning Electron Microscope April 5-9, 1976 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1976) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205652 千現 単行書11 621.385.|Ｊ|5851 在架（利用可能）
46	Scanning Electron Microscopy/ 1977/ 1 : Proceedings of the 10th Annual Scanning Electron Microscope Symposium and Workshop on Materials and Component Characterization / Quality Control with the SEM/STEM SEM Applications to Semiconductors Analytical Electron Microscopy Biological Specimen Preparation for Sem March 28-April 1, 1977 edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205654 千現 単行書11 621.385.|J|6184 在架（利用可能）
47	Scanning Electron Microscopy/ 1968 : Proceedings of the Symposium on The Scanning Electron Microscope -- The Instrument and Its Applications April 30-May1, 1968 Chicago, Illinois edited by Om Johari edited by Om Johari IIT Research Institute (1968) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205651 千現 単行書11 621.385.|J|3865 在架（利用可能）
48	Practical Methods in Electron Microscopy/ Specimen Preparation in Materials Science [Part 1]/ Electron Diffraction and Optical Diffraction Techniques [Part 2] Vol.1 Part 1.2 Vol.1 P.J. Goodhew [Part 1]/ B.E.P. Beeston, Robert W. Horne and Roy Markham[Part 2] North-Holland (1972) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205647 千現 単行書11 621.385.833|G|6496 在架（利用可能）
49	Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science Daid B. Williams Philips Electronic Instruments (1984) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215619 千現 単行書11 621.385.833|W| 在架（利用可能）
50	Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Material Science David B. Williams and C. Barry Carter Plenum Press (1996) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217166 千現 単行書11 621.385.833|W|10078 在架（利用可能）

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出版日

• 2000 - 2009 (1)
• 1990 - 1999 (20)
• 1980 - 1989 (14)
• 1970 - 1979 (10)
• 1960 - 1969 (5)
• 1950 - 1959 (1)

予約可能

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