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831 Total-reflection X-ray fluorescence analysis 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217569 並木 単行書13 画像 543|Ｃ|１４０ 在架（利用可能）
832 Gettering and deffect engineering in semiconductor technology : GADEST '93 : proceedings of the 5th International Autumn Meeting held in Chossewitz, near Frankfurt(Oder), Germany, October 09-14, 1993 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216431 並木 集密書庫8 画像 548.526|| 在架（利用可能）
833 Standardization of fretting fatigue test methods and equipment 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216434 千現 書庫12 画像 STP|A|T-1499 在架（利用可能）
貸出不可
834 Diffusion and Defect Data Pt.A Defect and Diffusion Forum Vol.152 Vol.152 with Annual Index 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217593 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｄ|10475 在架（利用可能）
835 Physics and applications of the Josephson effect 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
200992 並木 単行書9 画像 537.31|B|7237 在架（利用可能）
836 Quantitative microbeam analysis : Proceedings of the Fortieth Scottish Universities Summer School in Physics, Dundee, August 1992 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216437 並木 単行書25 画像 669|F|T-1502 在架（利用可能）
837 Inclusions belonging to the systems MgO-SiO2-Al2O3, CaO-SiO2-Al2O3 and related oxide systems. Sulphide inclusions 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
204143 並木 単行書27 画像 669.2|K|3298 在架（利用可能）
838 The origin and behaviour of inclusions and theirinfluence on the properties of steels 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
205518 並木 単行書27 画像 669.2|K|3631 在架（利用可能）
839 Transmission electron microscopy of materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216391 並木 単行書17 画像 548|T|T-486 在架（利用可能）
840 Diffusion and Defect Data Pt.A Defect and Diffusion Forum Vol.131-132 Vol.131-132 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217016 並木 集密書庫8 画像 548.526|Ｄ|9946 在架（利用可能）

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