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1	Atom probe tomography : analysis at the atomic level Miller, M. K. (Michael Kenneth) Kluwer Academic/Plenum Publishers (2000) UDC: 539.24 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218554 並木 単行書11 539.24|M|11237 在架（利用可能）
2	Atom probe field ion microscopy Miller, M. K. (Michael Kenneth) Clarendon Press (1996) UDC: 539.24 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217040 並木 単行書11 539.24|M|9968 在架（利用可能）

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