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1	Nanoscale spectroscopy and its applications to semiconductor research Watanabe, Yoshio Springer (2002) 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 603523 並木 単行書14 543.4|W| 在架（利用可能）
2	Advances in scanning probe microscopy 櫻井, 利夫 渡辺, 洋右 Springer (2000) UDC: 538.971 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218880 並木 単行書10 538.971|S|ｷ1066 在架（利用可能）
3	Advances in scanning probe microscopy 櫻井, 利夫 渡辺, 洋右 Springer (2000) UDC: 538.971 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218486 並木 単行書10 538.971|S|ｷ 984 在架（利用可能）

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