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NMRによる有機材料分析とその試料前処理、データ解釈

技術情報協会技術情報協会 (2021) UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
602372	並木	単行書11	NIMS\|T\|	在架（利用可能）

Ｘ線吸収微細構造：XAFSの測定と解析 26

宇田川康夫宇田川康夫学会出版センター (1993) UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
213043	千現	単行書7	543.4\|Ｎ\|9390	在架（利用可能）
213209	千現	単行書7	543.4\|N\|9491	在架（利用可能）

Ｘ線工業分析第２集

日本分析化学会Ｘ線工業分析研究懇談会南江堂 UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
528624	並木	単行書10	543.4\|\|	在架（利用可能）

X線工業分析

日本分析化学会Ｘ線工業分析研究懇談会南江堂 (1964-05) UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
522704	並木	単行書10	543.4\|\|	在架（利用可能）

Ｘ線工業分析第３集

日本分析化学会Ｘ線工業分析研究懇談会南江堂 UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
528625	並木	単行書10	543.4\|N\|1267	在架（利用可能）

XAFSの基礎と応用 = Foundations and applications of XAFS

日本XAFS研究会講談社 (2017) UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
602449	並木	単行書10	543.4\|N\|	行方不明 (2023年12月より)

イオン励起のスペクトロスコピーとその応用 14 14

合志陽一，前田浩五郎，佐藤公隆合志陽一，前田浩五郎，佐藤公隆学会出版センタ− (1987) UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
216025	千現	単行書7	543.4\|N\|T-1343	在架（利用可能）

イオン交換高度分離技術の基礎

妹尾学. 阿部光夫. 鈴木喬. 講談社サイエンティフィク (1991) UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
528585	並木	単行書10	543.4\|\|05035	在架（利用可能）

イオン交換

Grimshaaw.R.W. Harland.C.E.' 丸善 (1981) UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
528602	並木	単行書10	543.4\|\|04626	在架（利用可能）

エネルギー分散型Ｘ線分析 : 半導体検出器の使い方 18

合志陽一佐藤公隆学会出版センター (1989-06) UDC: 543.4

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
216026	千現	単行書7	543.4\|N\|T-1344	在架（利用可能）
217090	千現	単行書7	543.4\|N\|10002	在架（利用可能）

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