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1	X-ray and electron methods of analysis Eastern Analytical Symposium Van Olphen, H. Parrish, William Plenum Press (1968) UDC: 539.5 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 528368 並木 単行書12 539.5||02091 在架（利用可能）
2	Physical measurement and analysis of thin films Eastern Analytical Symposium Murt, E. M. Guldner, W. G. Plenum Press (1969) UDC: 543 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 202463 並木 単行書14 543|Ｍ| 在架（利用可能）

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