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1	材料評価のための分析電子顕微鏡法 進藤, 大輔 及川, 哲夫 共立出版 (1999-05) UDC: 620.187 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218378 並木 単行書20 620.187|S|11112 在架（利用可能）
2	Metallurgical Applications of The Scanning Electron Microscope BISRA 日本技術調査 (1993-01-01) UDC: 620.187 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 203940 並木 単行書20 620.187|Ｍｅ| 在架（利用可能）
3	Intermediate voltage microscopy and its application to materials science Rajan, Krishna Electron Optics Pub. Co. (1987) UDC: 620.187 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215623 並木 単行書20 620.187|R|T-1304 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (3)

図書館

• 並木 (3)
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コレクション

言語

• English (2)
• 日本語 (1)

出版日

• 1990 - 1999 (1)

予約可能

• はい (3)
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