English

資料を検索する

詳細検索

64 件の資料が 103568 件の資料から 0.039 秒で見つかりました。

次の項目で並べ替える: 新着図書優先 出版日優先 タイトル

11 Electron microscopy of interfaces in metals and alloys 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
600498 千現 単行書11 画像 621.385.833|H| 在架（利用可能）
12 電子顕微鏡研究者のための FIB・イオンミリング技法Q&A：ナノテクノロジーの推進役 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
211003 千現 単行書11 画像 621.385.833|H|12455 在架（利用可能）
13 Scanning Electron Microscopy : Physics of Image Formation and Microanalysis -2nd ed.- Vol.45 Vol.45 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219240 千現 単行書11 画像 621.385.833|R|11733 在架（利用可能）
14 Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy Science 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219114 千現 単行書11 画像 621.385.|J|11641 在架（利用可能）
15 Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218843 千現 単行書11 画像 621.385.833|F|11478 在架（利用可能）
16 電子顕微鏡Q&A : 先端材料解析のための手引き 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218083 千現 単行書11 画像 621.385.833|H|10834 在架（利用可能）
17 Convergent-Beam Electron Diffraction 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
215459 千現 単行書11 画像 621.385.833|Ｔ|T-771 在架（利用可能）
18 先端材料評価の電子顕微鏡技法 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
212569 千現 単行書11 画像 621.385.|Ｄｅ|9243 在架（利用可能）
19 Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
209053 千現 単行書11 画像 621.385.833|W|7785 在架（利用可能）
20 電子顕微鏡学事典 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
208148 千現 参考図書19 画像 621.385|Ｈ| 在架（利用可能）

:
詳細検索