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タイトル
21
Electron Beam X-Ray Microanalysis
Kurt F.J. Heinrich
Van Nostrand Reinhold co.
(1981)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
204277
千現
単行書11
621.38|H|6988
在架(利用可能)
22
トランジスタ−互換表 ’81
トランジスタ−技術編集部
CQ出版社
(1981)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
202664
千現
単行書11
621.38|T|6950
在架(利用可能)
23
電子光学 228
裏克己
共立出版
(1979)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
208513
千現
単行書11
621.38|K|7205
在架(利用可能)
24
Material Characterization Using Ion Beams B 28 Physics,Vol.28
edited by J.P. Thomas, A. Cachard
edited by J.P. Thomas, A. Cachard
Plenum Press
(1978)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
215445
千現
単行書11
621.38|T|T-515
在架(利用可能)
25
Semiconductor Lasers and Heterojunction LEDs Applications
Henry Kressel, Jerome K. Butler
Academic Press
(1977)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
215485
千現
単行書11
621.38|K|T-800
在架(利用可能)
26
Systematic Materials Analysis Vol.1
J.A.Richardson & R.V.Peterson
Academic,N.Y.
(1974)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
204459
千現
単行書11
621.38|R|
在架(利用可能)
27
化合物半導体デバイス
日本産業技術振興協会新材料技術委員会
日本産業技術振興協会新材料技術委員会
日本産業技術振興協会
(1973)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
207924
千現
単行書11
621.38|N|5340
在架(利用可能)
28
VTR 4
澤崎憲一
コロナ社
(1973)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
204465
千現
単行書11
621.38|S|
在架(利用可能)
29
Electron and Ion Beam Science and technology Fifth International Conference
edited by Robert Bakish
edited by Robert Bakish
(1972)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
208507
千現
単行書11
621.38|B|
在架(利用可能)
30
An Electron Exposure System for Recording and Printing
L. A. Fontijn
Deiftsche Vitgevers Maatschappij N. V.
(1972)
UDC: 621.38
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
205352
千現
集密書庫
621.38|El|
在架(利用可能)
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資料の形態
冊子体 (61)
図書館
千現 (61)
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コレクション
言語
English (32)
日本語 (29)
出版日
2010 - 2019 (1)
2000 - 2009 (2)
1990 - 1999 (9)
1980 - 1989 (10)
1970 - 1979 (9)
1960 - 1969 (11)
1950 - 1959 (13)
予約可能
はい (59)
いいえ (2)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON