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1	Ｘ線分析最前線 佐藤 公隆 編，[合志 陽一 監修] アグネ技術センター (1998) UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 217617 千現 単行書7 543.42|S|ｷ791 在架（利用可能）
2	Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis : Theory and Application Gerald R. Lachance, Fernand Claisse John Wiley & Sons (1995) UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216538 千現 単行書7 543.42|L|9554 在架（利用可能）
3	Chemical Microanalysis : Using Electron Beams No.523 I.P. Jones The Institute of Materials (1992) UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 213093 千現 単行書7 543.42|J|9433 在架（利用可能）
4	レーザー分光計測の基礎と応用 浜口 宏夫(濵口 宏夫), 尾崎 幸洋 [ほか］編著 アイピーシー (1992) UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 216534 千現 単行書7 543.42|Ｈ|9550 在架（利用可能）
5	Studies of The Surfaces of Solids by Electron Spectroscopy : Recent Trends ; Proceedings of a Royal Society discussion meeting held on 28 February and 1 March 1985 organized by Sir Ronald Mason, N. Sheppard, and M.W. Roberts ; and edited by Sir Ronald Mason Royal Society (1986) UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 215761 千現 単行書7 543.42|M|T-834 在架（利用可能）
6	Separation and Spectrophotometric Determination of Elements Chemistry Zygmunt Marczenko John Wiley & Sons (1986) UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 209151 千現 単行書7 543.42|M|8169 在架（利用可能）
7	Deconvolution : With Applications in Spectroscopy edited by Peter A. Jansson edited by Peter A. Jansson Academic Press (1984) UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 212505 千現 単行書7 543.42|J|7549 在架（利用可能）
8	Principles of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis R. Tertian, F. Claisse Heyden UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 208817 千現 単行書7 543.42|T|7312 在架（利用可能）
9	Principles of Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis R. Tertian, F. Claisse Heyden UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 208309 千現 単行書7 543.42|T|7907 在架（利用可能）
10	Separation and Spectrophotometric Determination of Elements Zygmunt Marczenko John Wiley & Sons UDC: 543.42 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 208353 千現 単行書7 543.42|M|7950 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (14)

図書館

• 千現 (14)
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コレクション

言語

• English (11)
• 日本語 (3)

出版日

• 1990 - 1999 (4)
• 1980 - 1989 (3)
• 1960 - 1969 (4)

予約可能

• はい (14)

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