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61 X-ray diffraction by polycrystalline materials 冊子体
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209709 並木 単行書18 画像 548.73|P|273 在架(利用可能)
62 19th International Conference on the Physics of Semiconductors : Warsaw, Poland, August 15-19, 1988 v. 1 冊子体
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217599 並木 単行書22 画像 621.38|Z| 在架(利用可能)
63 19th International Conference on the Physics of Semiconductors : Warsaw, Poland, August 15-19, 1988 v. 2 冊子体
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217600 並木 単行書22 画像 621.38|Z| 在架(利用可能)
64 Resonance Ionization Spectroscopy 1988 : proceedings of the Fourth International Symposium on Resonance Ionization Spectroscopy and its Applications held at the National Bureau of Standards, Gaithersburg, Maryland, from 10-15 April 1988 冊子体
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207824 並木 単行書8 画像 535.33|L|8611 在架(利用可能)
65 Quantitative microbeam analysis : Proceedings of the Fortieth Scottish Universities Summer School in Physics, Dundee, August 1992 冊子体
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216437 並木 単行書25 画像 669|F|T-1502 在架(利用可能)
66 Papers presented at a symposium held in New York City, November, 1939, under the auspices of the American Institute of Physics, with the cooperation of National Bureau of Standards, National Research Council 冊子体
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200923 並木 単行書8 画像 536.5|T|1899 在架(利用可能)
67 Applied methods and instruments 冊子体
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201150 並木 単行書8 画像 536.5|T|2141 在架(利用可能)
68 Papers presented at the Third Symposium on Temperature, Washington, D. C., October 28-30, 1954 冊子体
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201149 並木 単行書8 画像 536.5|T| 在架(利用可能)
69 Microscopy of semiconducting materials, 1983 : proceedings of the Institute of Physics Conference held in St Catherine's College, Oxford, 21-23 March 1983 冊子体
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207991 並木 単行書9 画像 537.311|C|7772 在架(利用可能)
70 Microscopy of semiconducting materials, 1981 : proceedings of the Royal Microscopical Society Conference held in St. Catherine's College, Oxford, 6-10 April 1981 冊子体
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207992 並木 単行書9 画像 537.311|C|7771 在架(利用可能)

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