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1 Control of Semiconductor Surfaces and Interfaces : Symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A. ; MRS Vol.448 Vol.448 Vol.448 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219590 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|キ1288 在架(利用可能)
2 Determining Nanoscale Physical Properties of Materials by Microscopy and Spectroscopy : Symposium held November 29-December 3, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A. ; MRS Vol.332 Vol.332 Vol.332 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219589 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|キ1287 在架(利用可能)
3 Interface Control of Electrical, Chemical, and Mechanical Properties : Symposiumheld November 29-December 3, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A. ; MRS Vol.318 Vol.318 Vol.318 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219588 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|キ1286 在架(利用可能)
4 Microcrystalline Semiconductors : Materials Science & Devices : Symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A. ; MRS Vol.283 Vol.283 Vol.283 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219587 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|キ1285 在架(利用可能)
5 Evolution of Thin - Film and Surface Microstructure : Symposium held November 26-December 1, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A. ; MRS Vol.202 Vol.202 Vol.202 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219584 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|キ1282 在架(利用可能)
6 Microcrystalline and Nanocrystalline Semiconductors--1998 : Symposium held November 30- December 3, 1998, Boston, Massachusetts, U.S.A. ; MRS Vol.536 Vol.536 Vol.536 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219319 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|11777 在架(利用可能)
7 Impurities, Defects and Difffusion in Semiconductors: Bulk and Layered Structures Symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, massachusetts, U.S.A.; MRS Vol.163 Vol.163 Proceedings 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219278 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|キ1192 在架(利用可能)
8 Materials Research Society Symposium Proceedings. Vol.162 (Diamond. Silicon Carbide and Related Wide Bandgap Semiconductors.)' 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
526180 並木 単行書13 画像 548.5||05005 在架(利用可能)
9 Materials Research Society Symposium Proceedings. Volume 287 (Silicon Nitride Ceramics Scientific and Technological Advances) 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
528223 並木 単行書15 画像 666.3|C|5115 在架(利用可能)
10 Ultrathin SiO2 and High-K Materials for ULSI Gate Dielectrics : Symposium held April 5-8, 1999,San Francisco, California, U.S.A. ; MRS Vol.567 Vol.567 Vol.567 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218361 千現 プロシーディングス26 画像 MRS|P|11095 在架(利用可能)

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