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1	Japan-US symposium on tools and metrology for nanotechnology : Cornell university, Jan. 23-24, 2003 [s.n.] ([2003]) UDC: 620.2 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 603232 並木 参考図書2 NIMS|J| 在架（利用可能）

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資料の形態

• 冊子体 (1)

図書館

• 並木 (1)

コレクション

言語

• English (1)

出版日

• 2000 - 2009 (1)
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